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高靈敏度X射線熒光光譜儀的原理和優(yōu)點(diǎn)是什么呢?
點(diǎn)擊次數(shù):1430 更新時(shí)間:2020-04-24
X射線熒光光譜法是元素分析的主要手段之一,在元素分析中具有制樣簡(jiǎn)單、無(wú)損、快速、不破壞樣品、可以多元素同時(shí)分析等優(yōu)點(diǎn)。
X射線熒光光譜儀
就是這樣一種分析儀器,目前市場(chǎng)上使用比較多的兩種型號(hào)是能量色散型和波長(zhǎng)色散型的X射線熒光光譜儀。但這種傳統(tǒng)的儀器有時(shí)候靈敏度不夠高,無(wú)法滿足微量或痕量應(yīng)用領(lǐng)域的檢測(cè)需求,因此這制約了它的發(fā)展。
近年來(lái),X射線熒光光譜技術(shù)飛躍發(fā)展,在多項(xiàng)核心技術(shù)取得突破,一種高靈敏度的
X射線熒光光譜儀
應(yīng)運(yùn)而生,它也可以稱為單波長(zhǎng)激發(fā)-能量色散X射線熒光光譜儀,采用微焦斑X射線管,依靠全聚焦型雙曲面彎晶將X射線管出射譜中靶材高強(qiáng)特征射線單色化取出并聚焦到被測(cè)樣品點(diǎn),由于單色化入射,避免了由于X射線管出射譜中連續(xù)軔致輻射造成的背景干擾,從而大幅提升被測(cè)元素?zé)晒馍渚€的信噪比,同時(shí)采用高分辨率硅漂移探測(cè)器窗口接近樣品測(cè)試點(diǎn),取得樣品中元素?zé)晒馍渚€的極大立體角,進(jìn)一步提升元素?zé)晒馊肷涞教綔y(cè)器的射線強(qiáng)度。
高靈敏度
X射線熒光光譜儀
原理:
X射線光管出射譜由靶材的特征X射線分立譜以及軔致輻射連續(xù)譜組成,這些射線入射到樣品中,激發(fā)樣品中元素特征X射線的同時(shí),又會(huì)產(chǎn)生入射譜的康普頓散射和瑞利散射,探測(cè)器同樣會(huì)接收到這些散射背景,從而造成了連續(xù)背景信號(hào)的干擾,降低了元素檢測(cè)的峰背比,使樣品中微量或痕量元素難以被檢出。
X射線管出射譜由連續(xù)譜線和特征譜線組成,全聚焦型雙曲面彎晶僅衍射X射線光管出射譜中的高強(qiáng)度特征X射線,從而入射到樣品的X射線具有很好的單色性,因此從樣品出射的X射線除了樣品中的元素被激發(fā)產(chǎn)生的熒光X射線(線光譜)和單色入射線的瑞利散射和康普頓散射以外,不存在連續(xù)散射背景,從而保證待測(cè)元素特征線具有極低的背景干擾,被激發(fā)元素的熒光X射線用SDD(硅漂移探測(cè)器)檢測(cè),得到高分辨和高靈敏度的測(cè)試結(jié)果。
高靈敏度X射線熒光光譜儀具備傳統(tǒng)光譜儀無(wú)損、快速、多元素同時(shí)分析等特點(diǎn),同時(shí)又具備高靈敏度的特點(diǎn),其將X射線熒光的應(yīng)用領(lǐng)域不斷延伸,除了傳統(tǒng)X射線應(yīng)用領(lǐng)域外,新的領(lǐng)域成為高靈敏度X射線熒光光譜儀的市場(chǎng),具有廣闊的市場(chǎng)前景。
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